Laboratorium Skaningowej Mikroskopii Elektronowej

Jednostka: Wydział Biologii i Nauk o Ziemi

Kategoria:  nowe materiały

Słowa kluczowe (tagi): mapowanie pierwiastkowe, analiza SEM próbki, trawienie jonowe

Tematyka badań naukowych:

• układy samoorganizujące się na powierzchniach półprzewodników typu metal-półprzewodnik;
• modyfikacja powierzchni w wyniku oddziaływania z wiązką jonowa.

Potencjalne zastosowanie prowadzonych badań naukowych:

• materiały półprzewodnikowe (krzem, german, półprzewodniki AIII-BV), materiały nieprzewodzące (polimery, szkła), materiały przewodzące (stale, stopy), proszki, materiały biologiczne (komórki, fragmenty komórek organicznych – liposomy, synaptosomy, preparaty uwodnione).

Aparatura badawcza dostępna do działalności komercyjnej:

• skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) FEI Quanta 3D FEG wyposażony w kolumnę jonową FIB, 2012, FEI USA.

Potencjalne usługi badawcze:

• obrazowanie SEM w wysokiej próżni;
• obrazowanie SEM w trybie środowiskowym;
• obrazowanie SEM z równoczesnym podgrzewaniem preparatu do 1000 deg C;
• analiza składu chemicznego preparatu;
• mapowanie pierwiastkowe preparatu;
• identyfikacja fazy krystalicznej preparatu;
• precyzyjne trawienie jonowe powierzchni;
• precyzyjne nanoszenie przewodzących metalicznych ścieżek platynowych (ok. 100 nm szerokości);
• przygotowanie preparatu „lamelki” (cienkiej folii <100 nm) za pomocą techniki jonowej dla obrazowania TEM.

Stosowane metody i techniki badawcze:

• metoda obrazowania SEM;
• metoda obrazowania ESEM;
• fluorescencja EDX i WDS;
• dyfrakcja elektronów EBSD;
• techniki jonowa FIB;
• technika nanoszenia platyny GIS.

Wykonywane zlecenia:

• analiza SEM próbki – dostarczona próbka zostaje zobrazowana w mikroskopie SEM (tryb SE – elektrony wtórne oraz BSE – elektrony wstecznie rozproszone), następnie badany jest skład pierwiastkowy próbki za pomocą techniki EDX;
• przygotowanie „lamelki” pod TEM – powierzchnia dostarczonej próbki zostaje zabezpieczona warstwą platyny za pomocą układu GIS, następnie wycinana jest cienka folia za pomocą działa jonowego FIB, która zostaje przymocowana do specjalnego holdera miedzianego. Tak przymocowana próbka następnie jest pocieniana za pomocą jonów aż do grubości około 100 nm.

Kontakt: cittru@uj.edu.pl

_________________________________________________________________________________________________
 

Laboratory for Scanning Electron Microscopy

Faculty: Faculty of Biology and Earth Sciences

Category: new materials

Catchwords (tags): chemical mapping, SEM analysis of the sample, ion etching

Scientific research subjects:

• self-organizing systems on the semiconductor surfaces of the metal-semiconductor type;
• ion-beam induce surface structuring.

Potential application of scientific research:

• semiconductor materials (silicon, germanium, AIII-BV semiconductors), non conducting materials (polymers, glasses), conducting materials (steels, alloys), powders, biological materials (organic cells, organic cells components - liposomes, synaptosomoes, hydrogenated samples).

Research apparatus available to commercial activity:

• scanning electron microscope (SEM) FEI Quanta 3D FEG equipped with Ion column FIB, 2012, FEI USA.

Potential research services:

• SEM imaging in high vacuum, SEM environmental imaging, SEM imaging with the simultaneous sample heating up to 1000 deg C;
• chemical analysis of the sample;
• chemical mapping of the sample;
• crystal phase identification of the sample;
• precision ion etching of the sample surfaces;
• precision patterning of the metallic conducting platinum tracks (ca. 100 nm width);
• preparation of the thin foil „lamella” (<100 nm) using ion technique for the TEM imaging. 

Methods and research techniques:

• SEM imaging, ESEM imaging;
• fluorescence EDX and WDS;
• EBSD electron difraction;
• FIB ion technique;
• GIS Platinum deposition technique.

Performed contract research:

• SEM analysis of the sample – the sample is imaged using SEM microscope (SE – secondary electrons and BSE – backscatter electrons signal), next the chemical composition of the sample is examined using EDX technique;
• TEM „lamella” preparation – the surface of the sample is protected by the platinum layer using GIS system, next the thin foil if cut out using FIB ion technique, the foil is mounted to the special cupper holder. Such mounted sample is later thinned using ions up to ca. 100 nm width.

Contact: cittru@uj.edu.pl