Laboratorium Materiałowych Badań Mikro- i Nanostrukturalnych
Jednostka: Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej, Wydział Chemii
Kategoria: nowe materiały
Słowa kluczowe (tagi): badanie przemian fazowych, stabilność nanostruktur, rezystometria
Tematyka badań naukowych:
- badanie stabilności nanostruktur oraz zachodzących w nich przemian strukturalnych.
Potencjalne zastosowanie prowadzonych badań naukowych:
- osadzanie cienkich warstw szerokiego zakresu materiałów;
- budowa optycznych cienkowarstwowych układów z materiałów dielektrycznych, metali lub mieszanych, o zadanych charakterystykach spektralnych.
Aparatura badawcza dostępna do działalności komercyjnej:
- układy UHV do osadzania cienkich warstw metodą rozpraszania jonowego i epitaksji z wiązki molekularnej;
- dyfraktometr rentgenowskie “Empyrean” wyposażony w 3-osiowy stolik goniometryczny do dyfrakcji powierzchniowej z warstw osadzonych metodą epitaksji;
- spektrofometr Shimadzu UV 2001PC (1998);
- układy do pomiarów rezystometrycznych metodą “in-situ” i rezystometrii resztkowej.
Potencjalne usługi badawcze:
- osadzanie cienkich warstw metodami rozpraszania jonowego i epitaksji z wiązki molekularnej;
- pomiary i analiza charakterystyk spektralnych układów cienkowarstwowych w zakresie UV-NIR;
- badanie przemian fazowych i równowag fazowych metodą rezystometrii.
Stosowane metody i techniki badawcze:
- pomiary absorbancji, transmitancji współczynnika zmętnienia, grubości warstw oraz współczynników załamania w cienkich warstwach dielektryków i półprzewodników;
- dyfrakcja i reflektometria rentgenowska;
- rezystometria.
Kontakt: cittru@uj.edu.pl
________________________________________________________________________________________________
Laboratory for Micro- and Nanostructural Materials Research
Faculty: Faculty of Physics, Astronomy and Applied Computer Science, Faculty of Chemistry
Category: new materials
Catchwords (tags): structural transformation, structural stability, resistometry
Scientific research subjects:
- studies of structural stability and structural transformations in nanostructured materials.
Potential application of scientific research:
- deposition of thin films of diverse materials;
- vacuum deposition of optical, dielectric and/or metallic, thin film multilayers with predicted spectra characteristic.
Research apparatus available to commercial activity:
- UHV-standard chambers for Molecular-Beam-Epitaxy and Magnetron Ion Sputtering;
- X-ray diffractometer “Empyrean” equipped with 3-axis goniometer for surface diffraction from epitaxially deposited layers;
- spectrophotometer Shimadzu UV 2001PC (1998); thin-film analyzer F20-UV (2012);
- systems for “in-situ” and residual resistometry.
Potential research services:
- thin-film deposition by means of Magnetron Ion Sputtering and Molecular Beam Epitaxy;
- measurements and analysis of the spectra response multilayer thin films in range UV-NIR;
- studies of phase transformations and phase equilibria by means of resistometry.
Methods and research techniques:
- measurements of absorbance, transmittance, measurements of turbidity and thickness and optical constants (n and k) of dielectric and semiconductor thin films;
- X-ray diffraction and reflectometry;
- resistometry.
Contact: cittru@uj.edu.pl
