Biotechnologia.pl
łączymy wszystkie strony biobiznesu
Pomiary mikroskopowe wysokiej rozdzielczości – SEM
Numer oferty UW_0018 Autor wpisu: cezary.samojlowicz Dziedzina nauki: Fizyka
Słowa kluczowe: skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) system mikroanalizy rentgenowskiej (EDS)

Zastosowania prowadzonych działań:

Nazwa aparatury: Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) Zaiss SIGMA

Specyfikacja:

Jeden z najnowocześniejszych mikroskopów SEM. Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) - umożliwia obrazowanie próbek w warunkach próżniowych, rozdzielczość w specyfikacji producenta ok. 1 nm.
Próbki nieprzewodzące przed pomiarem pokrywane są cienką warstwą materiału przewodzącego.

W zależności od zastosowanej energii wiązki elektronowej (zakres napięcie przyspieszającego elektrony od 0,1 kV do 30 kV) możliwe jest zobrazowanie dużej głębi ostrości, zmiany kontrastu obrazu badanej próbki, co pozwala na szczegółową analizę topologii.
Rozdzielczość mikroskopu: 1,3 nm przy 20 kV, 1,5 nm przy 15 kV, 2,8 nm przy 1kV.
Mikroskop posiada:
1) detektor elektronów wtórnych (SE, ang. secondary electron) INLENS – niskoenergetyczne elektrony (o energii mniejszej niż 50 eV) najczęściej wybijane z atomów położonych najbliżej powierzchni materiału;
2) pierścieniowy, sektorowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSE, ang. backscattered electron) – wysokoenergetyczne elektrony, który uległy sprężystemu odbiciu i opuściły jednocześnie powierzchnię materiału praktycznie bez utraty energii kinetycznej;
3) wewnątrzkomorowy detektor elektronów wtórnych Everharta - Thornley’a (ET SE);
4) detektory EDS (ang. energy dispersive spectroscopy) do systemu mikroanalizy rentgenowskiej;

 

Producent: Zaiss SIGMA

Rok produkcji: 2014

Metody badawcze:

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)

news

<Lipiec 2020>

pnwtśrczptsbnd
29
30
NutraFood Poland
2020-06-30 do 2020-07-02
Oznaczanie probówek PCR
2020-06-30 do 2020-06-30
1
2
3
4
5
6
7
8
9
11
12
13
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
1
2
Newsletter